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  • 2024-06-18 10:54:10

    干涉原理

    干涉原理把象激光这样的周期很规则的光分成2束后重新合成到一起就会观测到干涉现象。这是一种波的叠加,它会出现波峰和波峰,或波谷和波谷的重叠,而导致周期性的明暗条纹。这个干涉条纹,实际显示的是两束光的光程差。条纹的周期反映了一个波长长度(折返光路是其1半)的相位差。但是,不能根据干涉...

  • 2024-06-19 11:03:00

    干涉仪-组装调试的要点

    干涉仪-组装调试的要点如果掌握了此处提到的窍门,如果选用了西格玛的标准组件,我们都可简单地组装调试干涉仪了。这里我们分别介绍一下这些窍门,还有那些标准组件的信息。首先,调整立柱等的高度,把各器件的光轴调整到大致一样。调整He-Ne激光器,使其光束和平台面大致平行。考虑各器件调整时...

  • 2024-06-20 10:23:16

    干涉仪-实验方法

    干涉仪-实验方法在介绍各个具体的干涉系统之前,为了更好地熟悉干涉装置的特性,我们一起来做几个简单的实验,可以体会到一些教科书或用计算公式很难得到的经验。这里介绍的4个实验方法,它们都不需要使用特殊的工具。

  • 光学薄膜检测技术-干涉法测量薄膜厚度 干涉法是利用相干光干涉形成等厚干涉条纹的原理来确定薄膜厚度和折射率的。根据干涉条纹方程,对于不透明膜,有d=( q+c/e)*λ/2 (3-4)对于透明薄膜,有d=(q+c/e)*λ /2(nf-1) (3-5) 上...

  • 光学薄膜检测技术-影响测量准确度的因素 在利用分光光度计进行薄膜透过率和反射率的测量时,所需要注意的影响测量结果的主要因素有以下几点: 1)测量口径:测量中应保证光全部穿过样品,不能全部贯穿则会造成测量误差。如果在实际测量中遇到样品小于光束的情况,可以在光路中加入小孔径...

  • 光学薄膜检测技术-光学薄膜损伤测量标准及判定 广义上讲,光学薄膜的激光损伤可定义为元件“由于激光的作用而使薄膜的性能或者结构发生了可观察的变化”。由此,光学薄膜的损伤可分为可逆性损伤与非可逆性损伤两类。非可逆性损伤指由于激光作用,元件局部或整体的结构/物性发生了可观察的...

  • 光学薄膜检测技术-薄膜透过率测量 利用分光光度计测量薄膜元件的透射率的操作十分简单,一般只要把待测原件插入样品室的测量光路中即可。在利用分光光度计进行透过率测量时,仪器测量的是通过样品光路到达检测器的光强度与通过参比光路到达检测器的光强度的比值,称之为透过率。在实际测量过程中...

  • 光学薄膜检测技术-薄膜反射率测量薄膜反射率的测量不如透射率那样方便和普及。反射率的测量比透射率要复杂和困难。其主要原因是;1)不容易找到在很宽波段范围中具有 100%反射率性能的长期稳定的参考样品。2) 在反射率测量中,由于反射光路的变化灵敏,有样品和无样品时,光斑在光电探测器光...

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