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光学元件综合介绍-反射率,透过率随波长变化特性
反射率,透过率随波长变化特性
我司(誉立科技)代理的日本西格玛光机的产品的目录发布了几乎所有光学元件的反射率,透过率随波长变化的特性曲线。这些反射率,透过率的特性曲线是使用分光光度计测量的结果。※5
产品目录中不仅发布了设计保证波长谱区的数据,也发布了更宽波长谱区的数据。保证波长谱区之外的数据,重复性较差而且互相差异也较大,信赖这些数值是危险的。
在分光镜等产品中,只发布了透过率的特性曲线,没有发布反射率的特性曲线。因为多层电解质膜是没有吸收的,将特性曲线的纵轴倒过来,就可以很容易地推测出其反射率。※6
另外,测量结果中的入射角度和偏光方向是有规定的。在反射率测量的时候,入射角度为5°或者45°,在透过率测量的时候,入射角度为0°或者45°。
反射型光学元件在45°角入射时,P偏光和S偏光的曲线都有发表。这是因为多层电解质膜的反射率特性随偏光方向变化很大。但是有时受到版面限制。
曲线中没有发布P偏光和S偏光的的结果,这时发布的结果为P偏光和S偏光的平均值。
※5 一部分光学元件使用了薄膜设计的模拟数据。
※6 因为铬膜有吸收,1-透过率≠反射率。
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