行业知识
新闻资讯
- 诚挚邀请您出席《2024年广东省物理学会学术年会暨中山大学物理学科百年论坛》
- 诚挚邀请您出席《2023粤港澳大湾区智能微纳光电技术学术会议》
- 诚挚邀请您出席《第三届全国光子技术论坛》
- 祝贺第二十届全国量子光学学术会议圆满结束
联系我们
联系人: 周先生
手机: 13288666664
电话: 020-38880135 020-38880857
邮箱: sales01#gzyuli.com
地址: 广东省广州市天河区棠东官育路22号B239房
行业知识
触针法
触针法
这种方法在针尖上镶有曲率半径为几微米的蓝宝石或金刚石的触针,使其在薄膜表面上移动时,由于试样的台阶会引起触针随之做阶梯式上下运动。再采用机械的、光学的或电学的方法,放大触针所运动的距离并转换成相应的读数,该读数所表征的距离即为薄膜厚度。例如,触针钻石探头半径为0.00254mm,测试时与样品的接触压力约0.1g。
常用的电学放大法有以下几种:
1)差动变压器法: 利用差动变压器法放大触针上下运动距离的原理如图2-38a 所示。图中线圈2和线圈3的输出反相连接。由于铁心被触针牵动随触针上下移动,此时,线圈2和线圈3输出差动电信号,放大此信号并显示相应于触针运动距离的数值。
2)阻抗放大法: 阻抗放大法的原理如图 2-38b 所示。由于触针上下运动使电感器的间隙 d 发生相应的变化时,感抗随之变化,导致线圈阻抗改变。再利用放大电路放大并显示该阻抗的变化量,即可表征触针上下运动的距离。
3)压电元件法: 压电元件法是利用压电材料的压电效应来放大并显示触针上下运动的距离。由于触针上下运动,作用在压电晶体元件的压力将随之改变从而导致元件的电参数也随之改变。放大并显示该电参数的变化量,即可表征触针上下运动的数值。
触针式膜厚测量法广泛用于硬质膜厚的测量,其准确度比多光束干涉法高但应注意以下几个方面,因为它直接影响触针法的应用与准确度:
1)由于触针尖端的面积非常小,会穿透铝膜等易受损伤的软质膜,并在其上划出道沟,从而产生极大的误差;
2)基片表面的起伏或不平整所造成的“噪声”也会引起误差;
3)被测薄膜与基片之间,必须要有膜-基台阶存在,才能进行测量。
- 上一个:光学方法-等厚干涉条纹发
- 下一个:溅射镀膜机理介绍
新闻资讯
-
2025-04-24 10:55:54
镀膜
-
2025-04-23 10:05:10
双折射材料-方解石CaCO3
-
2025-04-22 10:58:48
双折射材料-水晶SiO2
-
2025-04-17 10:55:46
光学用晶体材料 Optical Crystals-锗 Ge
-
2025-04-16 10:54:16
光学用晶体材料 Optical Crystals-硅 Si
-
2025-04-15 10:01:42
光学用晶体材料 Optical Crystals-硒化锌ZnSe